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    Lumina光學表面缺陷分析儀

    Lumina AT1光學表面缺陷分析儀可對玻璃、半導體及光電子材料進行表面檢測。Lumina AT1既能夠檢測SiC、GaN、藍寶石和玻璃等透明材料,又能對Si、砷化鎵、磷化銦等不透明基板進行檢測,其價格優勢使其成為適合于研發/小批量生產過程中品質管理及良率改善的有力工具。

    更新時間:2022-04-18型號:Lumina瀏覽量:1914
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